PTI816 ict上IC的測試

日期:2021-07-22 06:28
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摘要:
 PTI816 ICT上IC的測試
pti816 ICT機器的IC主要有靜態及動態兩種測試法
靜態測試法:
     1 開短路(open/short)測試法

  測試IC各腳之間的開短路來測試出IC不佳

  2,IC保護二極管測試法

  每個IC都對地和電源有一個保護反向二極管,通過測試此反向二極管來測試IC的缺件,空焊,反插等不佳現像

  3,HP TESTJET量測法(ivetp)

  HP TestJetTechnology 是量測感測應器與IC 腳框之間的電容量來偵測IC 接腳的空焊。

  1) 由于采用ReedRelay 的ScannerBoard,Guarding 能力強,因此測試效果好。

  2) 由于干擾處理能力強,因此對SMD

  Type Connector的量測相當可靠

  3) 其對IC的可測率達到95%以上

  4 IC SCAN功能測試

  此技術是我公司磚利技術,測試并聊IC的開短路.

  功能測試主要有:

  1)穩壓管的穩壓值測試

  2)LED的測試

  3)電機馬達的測試
      4)板子的功能測試,以達到測試待測板功能
      5)數字IC的數位測試,確定邏輯關系
     6)BSCAN測試,可以無測試點測試開短路及IC功能

 PTI816ict上IC的測試

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