jtag邊界掃描測試的介紹

日期:2021-07-21 15:29
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摘要:
 
      jtag邊界掃描測試發展于上個世紀90年代,隨著大規模集成電路的出現,印制電路板制造工藝向小,微,薄發展,傳統的ICT測試已經沒有辦法滿足這類產品的測試要求。由于芯片的引腳多,元器件體積小,板的密度特別大,根本沒有辦法進行下探針測試。一種新的測試技術產生了,聯合測試行為組織(JointTestActionGroup)簡稱JTAG定義這種新的測試方法即邊界掃描測試。
       jtag邊界掃描測試通過提供對掃描鏈的IO的訪問,可以消除或極大地減少對電路板上物理測試點的需要,這就會顯著節約成本,因為電路板布局更簡單、測試夾具更廉價、電路中的測試系統耗時更少、標準接口的使用增加、上市時間更快。除了可以進行電路板測試之外,邊界掃描允許在PCB貼片之后,在電路板上對幾乎所有類型的CPLD和閃存進行編程,無論尺寸或封裝類型如何。在系統編程可通過降低設備處理、簡化庫存管理和在電路板生產線上集成編程步驟來節約成本并提高產量。




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